环境试验箱结合多轨温度控制与侦测应用

环境试验设备包含了高低温试验箱、恒温恒湿试验箱、冷热冲击试验箱、温度循环试验箱、盐雾试验箱、无风烤箱..等，这些试验设备全部都是在模拟环境中的温度、湿度对产品的影响性，找出设计、生产、储存、运输、使用过程可能出现的产品瑕疵，以前只有模拟测试区的空气温度，但是在新的国际规范与国际大厂的新的测试条件，开始要求依据的不是空气温度，而是测试品的表面温度，另外测试过程中也要将表面温度进行同步量测与纪录，用于试验后的分析，将相关环境试验设备结合表面温度控制，与表面温度量测的应用整理如下。恒温恒湿试验箱试验表温侦测应用：说明：恒温恒湿试验箱在试验过程中，结合了多轨的温度侦测，在进行高温高湿、结露(凝结)、组合温湿度、慢速温度循环..等试验过程，在测试品表面贴上感测器，可应用于量测测试品表面温度或内部温度，透过此多轨温度侦测模组可将设定条件、实际温湿度、测试品表面温度，一同量测与记录整合成为同步曲线档，用于后续保存与分析使用。

   冷热冲击试验箱表温控制与侦测应用：[驻留时间依据表温控制]、[温度冲击过程表面温度量测记录]说明：将8轨温度感测器贴合在测试品表面，应用于温度冲击过程中，驻留时间可依据表面温度到达才开始倒数，冲击过程中能将设定条件、测试温度、测试品表面温度，一同量测与记录整合成为同步曲线。

   温度循环试验箱表温控制与侦测应用：[温度循环温变率与驻留时间依据测试品表温进行控制]说明: 温度循环试验与温度冲击试验是不一样的，温度冲击试验是用系统最大能量进行高温低温之间的温度变化，其温变速度高达30～40℃ /min，温度循环试验是要求高低温变化过程，其温变率是可以设定与控制的，早期规范只有要求测试区温度，但是新的规范与国际大厂的测试条件，已经开始要求，其温变率指的不是空气温度，而是测试品表面温度，目前温度循环规范温变率控制，依据测试品表面的规范有[JEDEC-22A-104F、IEC60749-25、IPC9701、ISO16750、AEC-Q100、LV124、GMW3172]..等，另外高温与低温的驻留时间也能够依据试品表面，而不是空气温度。

   温度循环应力筛选试验箱表温控制与侦测应用：说明：温度循环应力筛选试验机，结合多轨温度量测之后，在应力筛选的温变率上，就可以选择试要采用[空气温度]还是[测试品表温]，来进行温变率的控制，另外在高低温驻留过程，时间倒数还可以依据测试品表面来进行控制，符合(GJB1032、IEST)相关规范与国际组织的要求，依据GJB1032在应力筛选驻留时间与温度测定点的定义，1.热电偶固定在产品上数量不得少于3个，有冷却系统其测温点不得少于6个，2.确保产品上2/3热电偶温度在设定温度±10℃，另外依据IEST(国际环境科学与技术协会)的要求，驻留时间需达到温度稳定的时间加5min或性能测试时间。无风烤箱(自然对流试验箱)表温侦测应用：说明：透过无风烤箱(自然对流试验箱)与多轨温度侦测模组的结合，产生没有透过风扇的温度环境(自然对流)，并进行相关温度侦测之测试整合试验，此解决方案可适用于电子产品的实际环境温度试验(如：云端伺服器、5G、电动车内部、室内无空调环境、太阳能逆变器、大尺寸液晶电视、家用网路分享器、办公室3C、笔记型电脑、桌上型电脑、游戏机.......等)。